An Enhanced Framework for Microprocessor Test-Program Generation

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: An Enhanced Framework for Microprocessor Test-Program Generation
Autori: F. Corno; Squillero G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 307-315
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Tipo non specificato
ISSN: 0302-9743
Volume: 2610
Titolo del convegno: 6th European Conference, EuroGP 2003
Luogo dell'evento: Essex (UK)
Data dell'evento: April 14–16, 2003
Abstract: Test programs are fragment of code, but, unlike ordinary application programs, they are not intended to solve a problem, nor to calculate a function. Instead, they are supposed to give information about the machine that actually executes them. Today, the need for effective test programs is increasing, and, due to the inexorable increase in the number of transistor that can be integrated onto a single silicon die, devising effective test programs is getting more problematical. This paper presents μGP, an efficient and versatile approach to testprogram generation based on an evolutionary algorithm. The proposed methodology is highly versatile and improves previous approaches, allowing the testprogram generator generating complex assembly programs that include subroutines calls
Data: 2003
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione:
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 05 Ott 2006 14:38
    Data ultima modifica (IRIS): 09 Lug 2014 09:21:25
    Data inserimento (PORTO): 24 Ott 2014 09:19
    Numero Identificativo (DOI): 10.1007/3-540-36599-0_28
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1417973
    Link resolver URL: Link resolver link
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