Macromodeling of Digital I/O Ports for System EMC Assessment

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Macromodeling of Digital I/O Ports for System EMC Assessment
Autori: Stievano I.S., Chen Z, Becker D., Canavero F.G., Katopis G., Maio I.A
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1044-1048
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 0769514715
Titolo del convegno: Design, Automation and Test in Europe Conference, DATE
Luogo dell'evento: Paris (France)
Data dell'evento: Mar. 4-8, 2002
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper addresses the development of accurate and efficient behavioral models of digital integrated circuit input and output ports for EMC and signal integrity simulations. A practical modeling process is proposed and applied to some example devices. The modeling process is simple and efficient, and it yields models performing at a very high accuracy level
Data: 2002
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 15 Feb 2008 15:05
Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 11:54:56
Data inserimento (PORTO): 14 Gen 2015 01:49
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/DATE.2002.998429
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1418295
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Citazioni:

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