Macromodeling of IC output buffers from in-place measurements

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Macromodeling of IC output buffers from in-place measurements
Autori: Stievano I.S.; Maio I.A.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1726-1730
Editore: IEEE
ISBN: 9780780393592
Titolo del convegno: IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC)
Luogo dell'evento: Sorrento (Italy)
Data dell'evento: Apr. 24-27, 2006
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2006
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 13 Feb 2007 13:13
Data ultima modifica (IRIS): 28 Set 2016 16:06:53
Data inserimento (PORTO): 01 Ott 2016 06:12
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/IMTC.2006.235196
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1510613
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

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