Fully digital strategy for fast test of SD ADC's / D., DE VENUTO; Reyneri, Leonardo. - (2006). (Intervento presentato al convegno International Mixed-Signals Testing Workshop 2006 tenutosi a Cannes (F)).

Fully digital strategy for fast test of SD ADC's

REYNERI, Leonardo
2006

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1613016
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