FPGA-based test strategy for high resolution ADC: analysis, optimization and experimental results / DE VENUTO, D; Reyneri, Leonardo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 23:(2007), pp. 539-548.

FPGA-based test strategy for high resolution ADC: analysis, optimization and experimental results

REYNERI, Leonardo
2007

2007
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1665246
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo