A Test Generation Program for Sequential Circuits / Macii, Enrico; Meo, A. R.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 5:(1994), pp. 115-119. [10.1007/BF00971967]

A Test Generation Program for Sequential Circuits

MACII, Enrico;
1994

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1869786
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