On the generation of test programs for chip multithread computer architectures

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: On the generation of test programs for chip multithread computer architectures
Autori: D. Ravotto; E. Sanchez; Sonza Reorda M.; G. Squillero
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: P6.4-P6.4
Editore: IEEE
ISBN: 9781424424030
Titolo del convegno: International Test Conference
Luogo dell'evento: Santa Clara, USA
Data dell'evento: 28-30 Oct. 2008
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2008
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 12 Giu 2009 13:04
    Data ultima modifica (IRIS): 29 Set 2017 14:32:33
    Data inserimento (PORTO): 01 Ott 2017 02:02
    Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TEST.2008.4700678
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2261001
    Link resolver URL: Link resolver link
    Citazioni:

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