Validation by Measurements of a IC Modeling Approach for SiP Applications

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Validation by Measurements of a IC Modeling Approach for SiP Applications
Autori: Cunha, T.R.; Teixeira, H.M.; Pedro, J.C.; Stievano, I.S.; Rigazio, L.; Canavero, F.G.; Izzi, R.; Vitale, F.; Girardi, A.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING, AND MANUFACTURING TECHNOLOGY
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
Volume: 1
Numero: 8
Intervallo pagine: pp. 1214-1225
Numero di pagine: 12
ISSN: 2156-3950
Abstract: The growing importance of signal integrity (SI) analysis in integrated circuits (ICs), revealed by modern systemin-package methods, is demanding for new models for the IC sub-systems which are both accurate, efficient and extractable by simple measurement procedures. This paper presents the contribution for the establishment of an integrated IC modeling approach whose performance is assessed by direct comparison with the signals measured in laboratory of two distinct memory IC devices. Based on the identification of the main blocks of a typical IC device, the modeling approach consists of a network of system-level sub-models, some of which with already demonstrated accuracy, which simulated the IC interfacing behavior. Emphasis is given to the procedures that were developed to validate by means of laboratory measurements (and not by comparison with circuit-level simulations) the model performance, which is a novel and important aspect that should be considered in the design of IC models that are useful for SI analysis
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: system-in-package, simulation, modeling, integrated circuits, computer aided design
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 21 Gen 2016 12:49
Data ultima modifica (IRIS): 16 Mag 2016 15:34:19
Data inserimento (PORTO): 13 Gen 2017 05:35
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TCPMT.2011.2158313
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2422933
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