Combining SysML modelling with refinement checking in Eclipse

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Combining SysML modelling with refinement checking in Eclipse
Autori: Makartetskiy D., Sisto R.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 290-293
Editore: Italian Eclipse Community
ISBN: 9788890438820
Titolo del convegno: Proc. of the 6th Workshop of the Italian Eclipse Community, Eclipse-IT 2011
Luogo dell'evento: Milano
Data dell'evento: 22-23 Settembre 2011
Rilevanza dell'evento: Nazionale
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: sysml, formal methods, refinement checking
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
Data di deposito: 10 Nov 2011 18:50
Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 11:19:07
Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 16:57
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2460496
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