Noise Source Impedance Measurement in SMPS

Tipo di pubblicazione: Capitolo di libro
Tipologia MIUR: Contributo in Volume > Contributo in volume( Capitolo o Saggio)
Titolo: Noise Source Impedance Measurement in SMPS
Autori: Tarateeraseth V.; Kye Yak See; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del libro: Electromagnetic interference issues in power electronics and power systems / Zare F.
Intervallo pagine: pp. 38-56
Editore: Bentham Science Publishers
ISBN: 978-160805388-9
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 08 Feb 2012 15:47
Data ultima modifica (IRIS): 16 Feb 2016 16:53:33
Data inserimento (PORTO): 18 Feb 2016 03:34
Numero Identificativo (DOI): 10.2174/978160805240011101010038
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2487982
Citazioni:

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