Macromodeling based variability analysis of an inverted embedded microstrip line

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Macromodeling based variability analysis of an inverted embedded microstrip line
Autori: Ginste D.V.; De Zutter D.; Deschrijver D.; Dhaene T.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 153-156
Editore: IEEE
ISBN: 9781424493982
Titolo del convegno: 20th Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems (EPEPS 2011)
Luogo dell'evento: San Jose, CA (USA)
Data dell'evento: Oct. 23-26, 2011
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: transfer functions, robustness, microstrip, integrated circuit interconnections, frequency domain analysis, computational modeling
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 09 Feb 2012 18:48
Data ultima modifica (IRIS): 02 Mag 2016 16:05:58
Data inserimento (PORTO): 04 Mag 2016 03:45
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EPEPS.2011.6100213
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2488805
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

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