Complex Permittivity Determination from Measured Scattering Parameters of TEM Waveguides

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Complex Permittivity Determination from Measured Scattering Parameters of TEM Waveguides
Autori: Ferraris S.; Savi P.; Maio I.A.
Autori di ateneo:
Titolo del convegno: European Geosciences Union assembly (EGU)
Luogo dell'evento: Vienna (Austria)
Data dell'evento: 13-18 Aprile, 2011
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > CAMPI ELETTROMAGNETICI
Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 13 Apr 2012 15:17
Data ultima modifica (IRIS): 03 Feb 2016 09:33:43
Data inserimento (PORTO): 21 Feb 2017 10:41
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2496741
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Citazioni:

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