A Statistical Assessment of Opto-Electronic Links

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: A Statistical Assessment of Opto-Electronic Links
Autori: P. Manfredi; I.S. Stievano; G. Perrone; P. Bardella; F.G. Canavero
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 61-64
Tipo di referee: Comitato scientifico
Editore: IEEE
ISBN: 9781467325370
Titolo del convegno: 21st IEEE International Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems (EPEPS)
Luogo dell'evento: Tempe, AZ, USA
Data dell'evento: Oct. 21 -24
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper addresses the stochastic simulation of high-speed optical interconnects. It provides an effective solution for the inclusion of the effects of process variation or possible unknown device characteristics on the system response. The proposed approach is based on the stochastic collocation method and Lagrange interpolation. The results obtained on the transient analysis of a realistic on-board optical link with uncertain parameters conclude the paper
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: circuit modeling, circuit simulation, optical interconnects, tolerance analysis, variability analysis
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTRONICA
Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > CAMPI ELETTROMAGNETICI
Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 25 Gen 2013 15:01
Data ultima modifica (IRIS): 05 Apr 2016 09:19:52
Data inserimento (PORTO): 08 Apr 2016 04:33
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EPEPS.2012.6457843
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2505648
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