Exploratory testing as a source of testing technical debt

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Exploratory testing as a source of testing technical debt
Autori: Syed Muhammad Ali Shah; Marco Torchiano; Antonio Vetro; Maurizio Morisio
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IT PROFESSIONAL
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
Volume: 16
Numero: 3
Intervallo pagine: pp. 44-51
Numero di pagine: 10
ISSN: 1520-9202
Abstract: We analyzed the software testing approach Exploratory Testing (ET) through a systematic review of literature to understand the consequences of ET as Technical debt. The evidence shows that ET is used as an alternative to any structured software testing approach to speed up the testing tasks and proved to be cost effective at the time of testing. Nevertheless ET also has many weaknesses that are not apparent at the time of testing but prompt up in later phases of system life cycle. Theses weaknesses incur increased rework and cost, and hence are considered to be the sources of TD. In addition we propose the possible solutions to embark upon these weaknesses that indeed help to reduce the testing technical debt of ET.
Data: 2014
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: exploratory testing, technical debt
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 07 Mar 2013 11:54
    Data ultima modifica (IRIS): 19 Mag 2017 15:18:41
    Data inserimento (PORTO): 21 Mag 2017 02:13
    Numero Identificativo (DOI): 10.1109/MITP.2013.21
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2506283
    Link resolver URL: Link resolver link
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