Variability analysis of interconnects terminated by polynomial nonlinear loads

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Variability analysis of interconnects terminated by polynomial nonlinear loads
Autori: Biondi A.; Vande Ginste D.; De Zutter D.; Manfredi P.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 104-107
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, NJ 08855 USA
ISBN: 9781479923137
Titolo del convegno: 2013 IEEE Electrical Design of Advanced Packaging and Systems Symposium (EDAPS)
Luogo dell'evento: Nara (Japan)
Data dell'evento: 12-15 December
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: In this paper, a stochastic modeling method is presented for the analysis of variability effects, induced by the manufacturing process, on interconnect structures terminated by polynomial nonlinear loads. The technique is based on the solution of the pertinent stochastic Telegrapher's equations in time domain by means of the so-called stochastic Galerkin method in conjunction with a finite-difference time-domain technique, allowing the inclusion of, e.g., nonlinear capacitors at the terminals of the lines. The proposed technique is validated and illustrated with an example, demonstrating its accuracy and efficiency
Data: 2013
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: variability analysis, nonlinear circuits, transmission lines, polynomial chaos (pc)
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 26 Mar 2014 12:07
Data ultima modifica (IRIS): 16 Mag 2016 15:43:36
Data inserimento (PORTO): 18 Mag 2016 03:37
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EDAPS.2013.6724400
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2537495
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Citazioni:

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