Integrated Circuit Modeling for Noise Susceptibility Prediction in Communication Networks

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Integrated Circuit Modeling for Noise Susceptibility Prediction in Communication Networks
Autori: Fontana, Michele; Canavero, Flavio G.; Perraud, Richard
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
Volume: 57
Numero: 3
Intervallo pagine: pp. 339-348
Numero di pagine: 10
ISSN: 0018-9375
Abstract: This paper addresses an integrated circuit (IC) modeling procedure for mixed-signal immunity simulations of communication networks. The procedure is based on a gray-box approach, modeling (IC) ports with a physical circuit and the internal links with a behavioral block. The parameters are estimated from time and frequency domain measurements, allowing accurate and efficient reproduction of nonlinear device switching behaviors. The effectiveness of the modeling process is verified by applying the proposed technique to a controller area network (CAN) transceiver, involved in a direct power injection (DPI) immunity test on a data communication link. The obtained model is successfully implemented in a VHDL-analog mixed-signal (AMS) solver to predict both the functional signals and the RF noise immunity at component level
Data: 2015
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: ports (computers), integrated circuit modeling, transceivers, noise, immunity testing, impedance, mixed analogue-digital integrated circuits, controller area networks, hardware description languages, integrated circuit modelling, integrated circuit noise, vhdl-analog mixed-signal solver, integrated circuit modeling, noise susceptibility prediction, communication networks, mixed-signal immunity simulations, gray-box approach, internal links, behavioral block, time domain measurements, frequency domain measurements, controller area network transceiver, direct power injection immunity test, data communication link, vhdl-analog mixed-signal (ams), can transceiver, conducted susceptibility, controller area network (can), electromagnetic compatibility (emc), mixed-signal integrated circuit, rf noise immunity, signal integrity
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Set 2016 15:42
Data ultima modifica (IRIS): 06 Set 2016 11:45:47
Data inserimento (PORTO): 09 Set 2016 04:47
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TEMC.2015.2406664
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2647380
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