Present and future of I/O-buffer behavioral macromodels

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Present and future of I/O-buffer behavioral macromodels
Autori: Signorini, G.; Siviero, C.; Telescu, M.; Stievano, I.S.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY MAGAZINE
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
Volume: 5
Numero: 3
Intervallo pagine: pp. 79-85
Numero di pagine: 7
ISSN: 2162-2264
Abstract: Signal and Power Integrity (SI/PI) verification flows rely on accurate models for complex I/O-buffers that drive and receive electrical signals on high-speed channels. The sheer density of modern integrated circuits makes detailed transistor-level descriptions computationally cumbersome to the point where they become unusable for system level simulations. Fortunately, transistor-level descriptions may be replaced with more compact representations that approximate the input/output buffers behavior with considerable accuracy while providing a simulation speedup of several orders of magnitude. Known as behavioral models, surrogate models or macromodels, these computationally efficient equivalents have become a de-facto industry standard in SI/ PI simulations. This paper presents an overview of the state-of-the-art in I/O-buffer behavioral modeling, introducing the main features of both standard and emerging solutions. Open issues and future research directions are also discussed
Data: 2016
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: digital integrated circuits, integrated circuit modeling, computational modeling, standards, mathematical model, integrated circuit interconnections
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 20 Dic 2016 08:04
Data ultima modifica (IRIS): 20 Dic 2016 07:04:05
Data inserimento (PORTO): 22 Dic 2016 05:35
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/MEMC.0.7764256
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2659625
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