Aggiornamento Repository Istituzionale e dismissione di PORTO.

Variability Impact of Many Design Parameters: The Case of a Realistic Electronic Link

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Variability Impact of Many Design Parameters: The Case of a Realistic Electronic Link
Autori: Larbi, Mourad; Stievano, Igor S.; Canavero, Flavio G.; Besnier, Philippe
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
Volume: 60
Numero: 1
Intervallo pagine: pp. 34-41
Numero di pagine: 8
ISSN: 0018-9375
Abstract: In this paper, we adopt the so-called sparse polynomial chaos metamodel for the uncertainty quantification in the framework of high-dimensional problems. This metamodel is used to model a realistic electronic bus structure with a large number of uncertain input parameters such as those related to microstrip line geometries. It aims at estimating quantities of interest, such as statistical moments, probability density functions, and provides sensitivity analysis of a response. It drastically reduces the model computational cost with regard to brute force Monte Carlo (MC) simulation. The method presents a good performance and is validated in comparison with MC simulation.
Data: 2018
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: crosstalk, discontinuities, high dimensional problems, risk analysis, sparse polynomial chaos (pc), uncertainty quantification., circuit design, discontinuities, high dimensional problems, risk analysis, sparse polynomial chaos (pc), uncertainty quantification., circuit design, crosstalk, risk analysis, sparse polynomial chaos (pc), uncertainty quantification., circuit design, crosstalk, discontinuities, high dimensional problems
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 26 Lug 2017 16:45
Data ultima modifica (IRIS): 17 Gen 2018 11:23:19
Data inserimento (PORTO): 19 Gen 2018 03:01
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TEMC.2017.2727961
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2677582
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img] PDF (jnl_2018_TEMC_PC_ieee.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Non visibile (accessibile solo al proprietario del dato)
Licenza: Non pubblico - Accesso privato / Ristretto.

Download (872Kb (893565 bytes)) | Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento
[img] PDF (jnl_2018_TEMC_PC.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Non visibile (accessibile solo al proprietario del dato)
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati.

Download (2111Kb (2162363 bytes)) | Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)